La revista ¡De acuerdo! es un producto editado por un grupo de Institutos Nacionales de Metrología (INM) y el Sistema Interamericano de Metrología (SIM), organización que actualmente ocupa el rol de Editor Responsable de la Revista.
¡De acuerdo! apunta a interesar, informar y transferir conocimientos sobre ciencia, Metrología e innovación tecnológica de manera entretenida y coloquial, fundamentalmente a jóvenes, de entre 15 y 20 años. Se prepara en español y tiene un tiraje anual, en versión impresa y digital y en diferentes formatos. Se prevé la traducción gradual de todas las ediciones al idioma inglés, pudiendo también traducirse a otros idiomas por acuerdos institucionales específicos.
Estructura
Comité Editorial
Integrado por representantes de los Institutos que participan de cada edición y otras personas invitadas por su perfil de interés para la revista.
Comité Ejecutivo
Integrado por:
Director Ejecutivo:
Dr. Alexis Valqui (Perú)
Secretaría Técnica:
Silvana Demicheli (Uruguay)
Diagramación y Diseño:
Alberto Parra del Riego (Alemania).
Comité de Redacción
Integrado por miembros del Comité Ejecutivo y periodistas invitados.
Autores
Los contenidos de la revista son preparados por periodistas nacionales (de los países participantes), metrólogos y/o técnicos/especialistas seleccionados por los INM para cada edición, e integrantes del Comité de Redacción.
Revisores
Todos los contenidos son revisados por integrantes del Comité Editorial y expertos invitados según la temática.